薄膜膜厚测试仪

    CHY-U薄膜膜厚测试仪采用目前世界测量领域*的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度*性；且操作调试极其方便，几近于自动化操作，大限度地减少了人为因素对测量结果带来的影响；并具有手动、自动两种测量模式，对于手动模式测量，可打印输出测量结果，对于自动模式测量，可按照预先设置好的次数自动测试，并对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。

    薄膜膜厚测试仪主要参数
    仪器型号：CHY-U
    其他名称：薄膜膜厚测量仪、薄膜测厚仪、薄膜厚度仪等
    测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
    分辨率 ：0.1um
    测量速度：10 次/分（可调）
    测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
    接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
    进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)
    进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)
    外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg

    膜厚检测方法：

    将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。