超声波探伤仪试块CSK-IA-济宁捷晨检测仪器有限公司

超声波探伤仪试块CSK-IACSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

详细介绍

超声波探伤仪试块CSK-IA的特点是CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利用50、44和40mm三个台阶孔测定斜探头分辨力。请选购超声波探伤仪试块CSK-IA