薄膜厚度测量仪CHY-C2用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料的厚度精确测量。
一.薄膜厚度测量仪特征
·机械接触式测量方法，不受测量材料的限制
·进口优质传感器，测量分辨率高达0.1微米
·进口优质传动元件，保证了试验结果的稳定性、 准确性
·测量头对薄膜（纸张）的接触面积、接触压力严格 遵循相关标准
·特殊结构设计，保证上下测量平面的平行
·灵活、方便的配重方式更能满足范围更宽的测量， 非标试验易于实现
·试验数据大屏幕液晶显示，操作按键人性化设计
·可设置手动、自动两种试验模式，测量结果自动 统计、打印
·具有电脑通信接口
·兼容ISO、ASTM等多种测量标准
二.结构组成
本试验仪主要由控制系统、测量系统、打印输出系统三部分组成。测量系统对薄膜进行测量，并 输出相应电信号；控制系统用以参数的设定、修改、传输信号的处理、测量结果的显示等；打印输出系统的功能是统计结果的输出，打印试验结果。
三.功能原理简述
本试验仪采用目前世界测量领域的技术成果，确保测量结果的高精确性，多次测量结果的高度*性；且操作调试极其方便，几近于自动化操作，zui大限度地减少了人为因素对测量结果带来 的影响；对于单次测量，仅打印输出测量结果，对于多次测量，可对测量结果进行统计、分析、打印输出；接触面积、测量压力、移动速度等严格遵循相关标准的规定。
四.主要技术指标
测量范围：0～2mm（常规）（0～6mm可选）
分 辨 率: 0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；〔50±1kPa（纸张）〕
接触面积：50mm2（薄膜）；〔200mm2 （纸张）〕
电 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300（L）mm×275（B）mm×300（H）mm
净 重：33kg
五.标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
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