镀层x射线膜厚仪(bowman)应用范围
* 测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
* 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 组成成分分析时可同时测定24种元素;
* 镀液中元素含量分析;
* 元素光谱定性分析;
* 基材分析;
生产商及仪器型号:
制造商:美国BOWMAN公司
原产地:美国
型 号:BA 100
镀层x射线膜厚仪(bowman)是利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。