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博曼x荧光X-RAY膜厚仪

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更新时间：2017-02-13 05:02:11浏览次数：364次

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产品简介

博曼x荧光X-RAY膜厚仪采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。

详细介绍

博曼x荧光X-RAY膜厚仪精度及验收标准说明：
在仪器精度及稳定性发生争议时，双方采用BOWMAN公司原厂Au/Ni/Cu组合标准块校正仪器后，测量其组合标准块做为双方争议时确认验证仪器精度及稳定性的标准。
测量厚度值≥0.25um的金标准块，仪器自动连续测量10次，
售后服务：
质保期一年,一年内任何问题包括仪器配件问题均免费更换,交货安装操作培训直到操作人员能独立操作为准，在后续工作中如有需要培训,我们将免费上门服务，上门服务无数次限制，从接到报修开始，我们在1小时内响应，承诺48小时内上门服务，通常上午接到，工程师下午到厂，下午来电，多数第二天上午到厂（特殊情况如节假日除外）

博曼x荧光X-RAY膜厚仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。