博曼pcb板半导体膜厚仪x射线的原理是X射线和紫外线与红外线一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
(1) 萤光X射线
(2) 散乱X射线
(3) 透过X射线
膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小.来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过一次X射线穿透金属元素样品时产生低能量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
博曼pcb板半导体膜厚仪
是利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。