美国bowman膜厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等.
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金.
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等.
双镀层:其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
美国bowman膜厚仪
是利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法,无论是无标准片测量还是有标准片测量,都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置,X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部,从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。