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博曼x荧光膜厚测试仪

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更新时间：2017-06-19 02:25:37浏览次数：394次

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产品简介

博曼x荧光膜厚测试仪采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。

详细介绍

博曼x荧光膜厚测试仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到*水平。
+ 的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
+ 产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的*性。
+ 高信噪比的电子线路单元。
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。

博曼x荧光膜厚测试仪
是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。