薄膜测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜测厚仪测试原理

机械接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测量头自动降落于试样之上，在一定压力和一定接触面积下测试出试样的厚度值。

薄膜测厚仪产品特征

◆ PLC控制，触摸屏操作

◆ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制

◆ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差

◆ 实时显示测量结果的zui大值、zui小值、平均值以及标准偏差等分析数据

◆ 系统支持数据实时显示、自动统计、储存、打印等许多实用功能

◆ 主机程序可按照要求定制

◆ 标准的RS232接口，专业软件（可选）

薄膜测厚仪技术参数

测试范围 0～2 mm（标配）

分辨率 0.1 μm

测试压力 17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）

接触面积 50 mm2（薄膜）200 mm2 （纸张）

电源 AC 220V 50Hz

尺寸: 450mm(L)*350mm(W)*400mm(H)

薄膜测厚仪标准

ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983, BS 4817、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547