用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度,以便了解材料的厚薄规格,各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度;有时则要测定材料表面的覆盖层厚度,以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同,常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的,但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射,测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间,即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度,也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的,体积与小型半导体收音机相近,厚度值的显示多是数字式的。对于钢材,测定厚度达2000 mm左右,精度在±0.01~±0.1 mm之间。磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时,测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时,由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流,此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈,使其阻抗发生变化,此变化量与探头线圈离金属表面的距离(即覆盖层的厚度)有关,因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理,可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片,塑料膜,纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
三种测量模式选择界面 | 中/英文选择界面 | μm/mil单位选择界面 | |
测头 | 红宝石固定 | ||
测量原理 | Fe:霍尔效应/NFe:电涡流 | ||
探头类型 | 外置连线式 | ||
测量范围 | 0.0-2000μm | ||
分辨率 | 0.1μm:(0μm-99.9μm) | ||
1μm:(100μm-999um | |||
0.01mm:(1.00mm-2.00mm | |||
测量精度 | ≤±(3%读数+2μm) | ||
单位 | μm/mil | ||
测量问隔 | 0.5s | ||
最小测量区域 | 0=25mm | ||
最小曲率半径 | 凸面:5mm/凹面:25mm | ||
最小基体厚度 | Fe:0.2mm NFe:0.05mm | ||
显示 | 128×48点阵LCD | ||
供电方式 | 2节1.5VAAA碱性电池 | ||
工作温度范围 | 0℃-50C | ||
存储温度范围 | -20℃-60℃ | ||
主机尺寸 | 101*62*28mm | ||
探头尺寸 | 71*26*22mm | ||
重量(含电池) | 114g | ||
产品依据标准 | GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法 GB/T4957-2003非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度测量-涡流法 DIN EN IS02808涂料和清漆漆膜厚度的测定 JJG-818-2005磁性、电涡流式覆盖厚度测量仪检定规程 |
价格面议