中山LED芯片高低温试验箱从字面上就可以对其大致的做一下初步了解，芯片高低温老化箱就是对芯片材料进行高低温测试老化的试验设备。科文KOWIN芯片高低温老化箱拥有专业的技术，新颖的设计，周到的服务，更重要的还有实惠的价格。更多详情敬请来电：
中山LED芯片高低温试验箱又名芯片高低温老化测试箱、芯片高低温循环试验箱、芯片高低温老化箱、芯片可程式高低温试验箱等。芯片高低温老化箱主要适用于芯片、IC卡等各类相关产品，对其进行高低温恒定和渐变、突发、耐热、耐寒、耐干燥等环境模拟的可靠性及适应性。根据试验方法与行业标准可分为“循环试验”和“温度试验”，两种试验方法都是在高低温测试箱的基础上进行升级拓展，可编程高低温循环试验箱是指可以一次性将需要做的高温、低温、时间设定在仪表参数内，试验箱会按照设定走程序，LCD高低温试验箱就是在做一个固定的温度，使试验效果更接近自然气候，模拟出更恶劣的自然气候，从而使被测样品的可靠性更高。
高低温试验箱实物图
中山LED芯片高低温试验箱的技术参数：
1、温度范围：Z: 0℃～150℃、T: -20℃～150℃、F:-40℃～150℃、S:-70℃～150℃
2、温度波动度：±0.5℃ （空载时）
3、温度均匀度：±2.0℃ （空载时）
4、降温速率：0.7～1.2℃/min
5、升温速度：3.5℃/min
6、时间设定范围：0～999 小时
7、电 源: 1ф3W 220V±10% 或3ф5W380V±10%
中山LED芯片高低温试验箱的标准参考型号：
型号:KW-GD-80 内箱尺寸：400×500×400 外箱尺寸：970×1360×970
型号:KW-GD-150 内箱尺寸: 500×600×500 外箱尺寸：1070×1460×1070
型号:KW-GD-225 内箱尺寸：500×750×600 外箱尺寸：1070×1610×1170
型号:KW-GD-408 内箱尺寸: 600×850×800 外箱尺寸：1170×1710×1270
型号:KW-GD-800 内箱尺寸：1000×1000×800 外箱尺寸：1550×1850×1300
型号:KW-GD-1000 内箱尺寸：1000×1000×1000 外箱尺寸：1550×1850×1470
容积：80L 150L 225L 408L 800L 1000L
注：以上尺寸如不能满足，可根据客户需求定制
中山LED芯片高低温试验箱的产品特色：
高精度微电脑无段式冷媒流量伺服控制调温系统，以PID+Fuzzy方式控制冷媒流量，使系统之加热减量，达到低耗能、节能、减碳效果。制冷、制热电子化智能控制，能长期稳定的使用。
☆同容积业可承受较大发热负载（可放置较多待测品）
☆全自动配合待测品负载量控制压缩机冷媒流量达到省电目的
☆同行业数量最多机台安全保护侦测点
规范要求：
a.可执行规范所要求之结露与不结露试验条件
b.执行待测品不结露试验温度同步斜率控制技术
c.可执行结露试验前的干燥阶段试验条件
与传统机型比较如下：
A.噪音数值：约60db（距机台正面1M量测）
B.反应速度：可省时50%以上
C.节能省电：平均约省电45%（省电约70%）
中山LED芯片高低温试验箱的控制系统：
芯片高低温老化箱采用由科文公司自主研发的KW-890型可程式微电脑高低温温度控制器：7英寸中英文真彩触摸屏式人机界面（画面对谈式）电脑控制，USB曲线记录，数据储存装置：
KW-890控制系统运行画面
优势1：提供USB通讯接口可备份/历史曲线/历史数据,使用便捷；还可选配RS485接口，RS232通信接口，可通过PC随意控制和监视。
优势2：人机对话式触摸屏输入系统，操作简单易学，功能强大，并可于LCD画面上了解程序设定之曲线及监测过程；
优势3：PV曲线/组曲线：实时表示温、湿度PV,SV曲线,表示历史储存的曲线,表示组曲线及进行状态；
优势4：可设定程序120组，1200段，循环次数可达999次，每段时间设定99小时59分；
优势5：大屏幕逼真彩色画面：TFT LCD(LED 背光) 7英寸TFT真彩VGA(800x480)
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优势6：具有程序修正、清除、预约、启动、停电、记忆、按键锁定等功能；
优势7： BMP文件表示：通过USB下载历史曲线为BMP图片格式文件。
控制面板配有RS-232及USB接口
优势8：画面保护器功能,程式运行时可以设定操作条件,一个段次的运行时间(530小时59分),每段可以设定待机开关，定值999999小时；
优势9：把记录错误履历,提供使用者查阅,全部画面提供英语、中国语；
优势10：具有多种报警功能，故障发生同时，可通过荧幕故障显示，消除故障；
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