1、适用范围：本标准规定用以测定电子组件（以下简称组件）于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性，试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距，试验方法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。
2、装置：振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。
（1）振动波形及失真率：施加于供试品之振动波形为正弦波，供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为25%以下。
（2）振动振幅：规定振动方向之振幅容许差，须为规定值之±15%以内。
（3）与规定振动方向垂直之振动：于供试品安装位置，与规定振动方向垂直之振动，不论任何方向，其振幅应为规定方向之25%以下。
（4）振动频率容许差：50Hz以下就为±1Hz，超过50Hz时应为±2%
（5）扫描（1）方法：原则是为对数扫描，但平均扫描亦可。
注：（1）1次扫描，例如10—55——10Hz，是指在规定振动频率范围作1次往复之频率变化。
3、准备
3．1 供试品之安装：将供试品依组件标准规定之方法，直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时，须能施加振动于组件标准规定之方向，且夹具应具足够机械强度，安装后亦不得松动或发生共振，组件标准应规定下列任一种安装方法。
（1） 固定组件本体（有导线之组件，亦同时固定导线）。
（2） 仅固定导线。
4、试验
4．1 前处理：原则上不作前处理。但有特别需要时，依组件标准之规定。
4．2 初期测定：依组件标准之规定施行，检查外观。
4．3 试验方法：依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时，于组件中应规定其zui大允许值。
4．3．1 试验方法种类：试验方法分为Ⅰ（扫描耐久试验）、Ⅱ（共振点偏移检出试验）及Ⅲ（共振点耐久试验）三种。
（1）试验方法Ⅰ（扫描耐久试验）：依组件标准之规定，照下表施行（参照图）。
振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同，合计6小时。
| 振动种类 试验条件 | 种类A | 种类B | 种类C |
| 振动频率范围 | 10～55Hz | 100～500Hz | 10～2000Hz |
| 全振幅或加速度 | 1．5mm | 1．5mm或98m/s2（10G）中较小者 | 1．5mm或196m/s2（20G）中较小者 |
| 扫描之比例 | 10-55-10Hz 约1分钟 | 10-500-10Hz约15分钟 | 10-2000-10Hz约20分钟 |
| 扫描方法 | 对数扫描或平均扫描 |
| 试验时间 | 6小时 |
（2）试验方法Ⅱ（共振点偏移检出试验）：本试验是于4．3．1（1）及4．3．1（3）试验前后施行，以检出供试品这共振频率。检出共振时之振幅与扫描耐久试验相同。但如由于减小振幅更能检出振动特性。可减小振幅。在扫描中检出共振点时，减低规定之扫描程度，必要时可停止扫描。于扫描耐入试验前后检出之共振频率，均应予以记录。
（共2页）（3）试验方法Ⅲ（共振点耐久试验）：本试验是就规定各振动方向之振动频率，依组件标准之规定，于组件标准规定
经 济部 中 央 标 准 局 印
CNS3629， C 6016 —2—
之振动频率范围内作下列时间之试验。
10分钟 30分钟 90分钟 10小时 10周（cycle）
4．3．2 电负载：组件标准有规定时，于4．3．1（1）、（2）、（3）试验中，施加电负载。
4．3．3 后处理：原则上不作处后处理，但如有特别需要时，使组件标准之规定。
4．5 zui终测定：依组件标准之规定施行，且检查外观。
5、组件标准应规定事项
（1） 安装（安装用具及安装方法）（参照3．1节）
（2） 前处理条件（有需要时）（参照4．1节）
（3） 初期测定项目（参照4．2节）
（4） 磁场影响（参照4．3节）
（5） 试验方法种类及试验条件（参照4．3．1（1）、（2）、（3）
（6） 电负载条件（参照4．3．2节）
（7） 振动试验中之测定项目（有需要时）（参照4．3．3节）
（8） 后处理条件（有需要时局（参照4．4节）
（9） zui终测定项目（参照4．5节）
（10） 其他特别需要事项
相关试验设备： 电磁振动台，垂直+水平电磁振动台，垂直振动台，振动台，机械振动台，模拟汽车运输振动台，跑马台等，如有需要请， 全国：
