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冲击试样缺口投影仪（CST-50）

功能用途
符合国标GB/T229－2007《金属材料夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要标，是一种专用于检查夏比V型（深2mm）和U型（深2mm）冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。

主要特点
●本设备是利用光学投影方法，将冲击试样缺口轮廓放大投射到投影屏上，与投影屏上冲击试样V型或U型缺口标准样板图比对，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格。

技术参数
●放大倍数：仪器放大倍率：50×
物镜放大倍率：2.5×
投影物镜放大倍率：20×
●投影屏直径：Φ180mm
●工作台尺寸：方工作台：110×125mm
圆工作台：Φ90mm
工作台玻璃：Φ70mm
●工作台行程：纵向：±10mm
横向：±10mm
升降：±12mm（无刻度）
●工作台转动范围：0－360°（无刻度）
●光源：12V，100W（卤钨灯）
●外形尺寸：515×224×603mm
●重量：18kg