X荧光光谱仪 返回列表页

一、X荧光光谱仪EDX1800的特点：

1、专业RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析

2、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上

3、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片

4、电制冷硅针半导体探测器，摒弃液氮制冷

5、智能RoHS检测软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单

二、X荧光光谱仪EDX1800的技术参数：

1、输入电压：220±5V/50HZ(建议配置交流净化稳压电源)

2、消耗功率：≤100（不包含电脑）

3、环境温度：15°C-30°C

4、环境湿度：35%-70%

5、样品腔面积：605mm×385mm×60mm

6、测量元素：从硫到铀等 75 种元素

7、元素含量分析范围：1ppm-99.99%

8、RoHS 指令规定的有害元素（限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达 1ppm

9、测量时间：60-300s

10、能量分辨率：165±5eV

11、管压：5-50 kV

12、管流：50-1000μA

13、外形尺寸：630mm×420mm×310 mm

14、重量：60kg

三、X荧光光谱仪EDX1800的配置：

1、信噪比增强器

2、的光路增强系统

3、电制冷硅针半导体检测器

4、内置高清晰摄像头

5、自动切换准直器和滤光片

6、精准的移动平台

7、加强金属元素感度分析器

8、相互独立的基体效应校正模型

9、任意多个可选择的分析和识别模型