北京中科华星科贸有限公司
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适用于大多数样品，包括薄片、粉末、碎片、透明与非透明样品，无需对样品进行喷碳或喷金处理可通过不同大小的光孔对矿物或试样进行微区分析（小至50~100μm）可通过对束斑大小的调节，得到矿物未知成分的平均值电子束激发X射线荧光强度高，强度要大于X射线激发源的激发强度约4-5个数量级，测试时间短电子束入射样品深度很浅（仅仅为1-2μm左右），实现表面分析
适用于大多数样品，包括薄片、粉末、碎片、透明与非透明样品，无需对样品进行喷碳或喷金处理
可通过不同大小的光孔对矿物或试样进行微区分析（小至50~100μm）
可通过对束斑大小的调节，得到矿物未知成分的平均值
电子束激发X射线荧光强度高，强度要大于X射线激发源的激发强度约4-5个数量级，测试时间短
电子束入射样品深度很浅（仅仅为1-2μm左右），实现表面分析。
除激发的特征X射线被探测以外，没有其他的噪声信号被探测，分析结果准确
探测器可探测的元素范围为11(Na)～92(U)
对Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析结果谱线重复性好。
全自动分析内建诊断功能，操作简便。
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