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CST-50冲击试样缺口投影仪

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更新时间：2023-09-03 09:29:38浏览次数：215次

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产品简介

【产品介绍】：产品用途： CST-50冲击试样缺口投影仪是根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口检测要求而设计开发的，是用于检测冲击试样缺口制作是否合格的重要设备。利用光学投影的原理将被测的冲击试样U型和V型缺口与投影仪上的标准板图进行对

详细介绍

产品用途：

CST-50冲击试样是根据GB/T229-2007《金属夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口检测要求而设计开发的，是用于检测冲击试样缺口制作是否合格的重要设备。

利用光学投影的原理将被测的冲击试样U型和V型缺口与投影仪上的标准板图进行对比以确定被检测的冲击试样加工是否合格，该设备操作简便，检查对比直观、效率高，是冲击试样加工过程中的检测设备。

主要技术指标：