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GCSTD-A介电常数测试仪及介质损耗测试仪

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更新时间：2023-03-08 13:57:02浏览次数：166次

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  电学性能检测仪器

GC-F液体介电常数测试仪

GC-D高低频介电常数测试仪
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北京冠测精电仪器设备有限公司

经营模式：其他

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产品简介

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法 AS150/IEC 60250

详细介绍

GCSTD-A介电常数测试仪及介质损耗测试仪的详细资料：

发

GCSTD-A

介电常数及介质损耗测试仪

技

术

方

案

书

北京冠测精电仪器设备有限公司

冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号	设备名称	设备型号	测试指标	备注
1	电压击穿试验仪	DDJ10KV-150KV	介电强度、泄漏电流	介电强度、泄漏电流
2	体积表面电阻测定仪	GEST-121	体积电阻率、表面电阻率	体积电阻率、表面电阻率
3	高频介电常数测试仪	GCSTD-A	介电常数、介质损耗	测试频率10KHZ-50MHZ
4	高频介电常数测试仪	GCSTD-B	介电常数、介质损耗	测试频率20KHZ-160MHZ
5	工频介电常数测试仪	GCSTD-C	介电常数、介质损耗	测试频率50HZ
6	高低频介电常数测试仪	GCSTD-D	介电常数、介质损耗	测试频率20HZ-5MHZ
7	耐电弧试验仪	NDH-A	耐电弧	微机控制、触摸屏控制
8	高压漏电起痕试验仪	NLD-AI	高压等级测试	zui高电压6KV
9	耐电痕化指数测定仪	NLD-B	CTI/PTI	zui高电压600V
10	电线电缆耐电痕试验仪	NLD-C	漏电痕迹、电痕化	触摸屏
11	导体电阻率测定仪	GEST-125	导体电阻率	触摸屏
12	半导体电阻率测定仪	GEST-123	半导体电阻率	触摸屏
13	炭素材料电阻率测定仪	GEST-122	电阻率	触摸屏
14	石油焦粉末电阻率测定仪	GEST-124	电阻率	触摸屏
15	回路电阻测定仪	HLD-100A	回路电阻	数字
16	高温耐压试验仪	DDJT-10KV-150KV	高温耐压	温度和电压范围可选
17	电阻温度特性测定仪	GCWRT-II	电阻温度特性	微机控制
18	介电温谱特性测定仪	GCWP-A	温谱、频谱	温度和频率范围可选

GCSTD-A

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

As150/IEC 60250

概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

仪器的技术指标

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023。

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c．标称误差

项目	GCSTD-A
频率范围	20kHz～50MHz；
固有误差	≤5％±满度值的2％；
工作误差	≤7％±满度值的2％；
频率范围	10MHz～60MHz；
固有误差	≤6％±满度值的2％；
工作误差	≤8％±满度值的2％。

2．电感测量范围：14.5nH~8.14H

3．电容测量：1~ 460

项目

GCSTD-A

直接测量范围

1～460pF

主电容调节范围

准确度

30～500pF

误差：±（0.5%C+0.1 pF）

注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则

4．信号源频率覆盖范围

项目	GCSTD-A
频率范围	10kHz～50MHz
频率分段（虚拟）	10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz
频率指示误差	3×10-5±1个字