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低频介电常数测试仪

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更新时间:2023-03-19 15:14:22浏览次数:115次

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产品简介

低频介电常数测试仪低频介电常数测试仪

详细介绍

低频介电常数测试仪 低频介电常数测试仪,

介电常数及介质损耗测试仪

冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类

序号设备名称设备型号测试指标备注

1电压击穿试验仪DDJ10KV-150KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流

2体积表面电阻测定仪GEST-121体积电阻率、表面电阻率体积电阻率、表面电阻率

3高频介电常数测试仪GCSTD-A介电常数、介质损耗测试频率10KHZ-50MHZ

4高频介电常数测试仪GCSTD-B介电常数、介质损耗测试频率20KHZ-160MHZ

5工频介电常数测试仪GCSTD-C介电常数、介质损耗测试频率50HZ

6高低频介电常数测试仪GCSTD-D介电常数、介质损耗测试频率20HZ-5MHZ

7耐电弧试验仪NDH-A耐电弧微机控制、触摸屏控制

8高压漏电起痕试验仪NLD-AI高压等级测试电压6KV

9耐电痕化指数测定仪NLD-BCTI/PTI电压600V

10电线电缆耐电痕试验仪NLD-C漏电痕迹、电痕化触摸屏

11导体电阻率测定仪GEST-125导体电阻率触摸屏

12半导体电阻率测定仪GEST-123半导体电阻率触摸屏

13炭素材料电阻率测定仪GEST-122电阻率触摸屏

14石油焦粉末电阻率测定仪GEST-124电阻率触摸屏

15回路电阻测定仪HLD-100A回路电阻数字

16高温耐压试验仪DDJT-10KV-150KV高温耐压温度和电压范围可选

17电阻温度特性测定仪GCWRT-II电阻温度特性微机控制

18介电温谱特性测定仪GCWP-A温谱、频谱温度和频率范围可选

GCSTD-A

介电常数测试仪及介质损耗测试仪

满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

ASTM D150/IEC 60250

一、概述

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。

该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、仪器的技术指标

1.Q值测量

a.Q值测量范围:2~1023。

b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c.标称误差

项 目GCSTD-A

频率范围20kHz~50MHz;

固有误差≤5%±满度值的2%;

工作误差≤7%±满度值的2%;

频率范围10MHz~60MHz;

固有误差≤6%±满度值的2%;

工作误差≤8%±满度值的2%。

2.电感测量范围:14.5nH~8.14H

3.电容测量:1~ 460

项 目GCSTD-A

直接测量范围1~460pF

主电容调节范围

准确度30~500pF

误差:±(0.5%C+0.1 pF)

注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则

4.信号源频率覆盖范围

项  目GCSTD-A

频率范围10kHz~50MHz

频率分段

(虚拟)10~99.9999kHz

100~999.999kHz

1~9.99999MHz

10~60MHz

频率指示误差3×10-5±1个字

5.Q合格指示预置功能

预置范围:5~1000。

6.Q表正常工作条件

a.  环境温度:0℃~+40℃;

b.相对湿度:<>

c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

7.其他

a.消耗功率:约25W;

b.净重:约7kg;

c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

8.产品配置:

a.测试主机一台;

b.电感9只;

c.夹具一套

9、样品尺寸:直径为Φ50mm/Φ38mm/100MM  厚度为0.5-15MM


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