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荧光分布成像系统

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更新时间：2023-06-12 13:48:58浏览次数：207次

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产品简介

产品介绍：以360nm～700nm波长范围的光以及白色光作为照射样品的入射光，测试样品光学性能。结果得到在不同光照条件下，相机拍摄的样品图像和检测样品的三维荧光光谱、反射光谱和量子效率等数据。

详细介绍

　　以360 nm～700 nm波长范围的光以及白色光作为照射样品的入射光，测试样品光学性能。结果得到在不同光照条件下，相机拍摄的样品图像和检测样品的三维荧光光谱、反射光谱和量子效率等数据。

　　使用EEM View附件测试，结合软件分析，可以显示放大图像及每个区段的反射、荧光光谱。

　　可以通过反射光成分图像和荧光成分图像的对比，确认检测面内光学特性(图像图案)的差异。

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