日立集团
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荧光分布成像系统采用全新设计，可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1，不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像，还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。*1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果。*EEM是日立科学公司在中国和日本的注册商标
荧光分布成像系统采用全新设计，可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1，不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像，还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。
新技术可同时获得荧光 · 反射图像和光谱
EEM View Analysis 界面（样品：LED电路板）
均匀的光源系统
同时获取样品的荧光 · 反射图像和光谱！
新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品，利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光图像。
样品安装简单，适用于各种样品测试！
样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！
为了提高可视性，我们测量了具有精细结构的荧光反射片。
同时获得光谱数据和样品图像
对样品照射360 nm～700 nm范围内的单色光以及白光。此时，可获得不同光源条件下的图像，同时通过荧光检测器可获得荧光光谱。测定完成后，可以查看样品的三维荧光光谱（激发波长、发射波长、荧光强度）。在专用分析软件中，可对图像进行放大，从而显示不同区域的荧光 · 反射光谱。因此能够确认光学性能分布不均匀的样品的反射和荧光光谱。
计算、显示不同区域的光谱（荧光 · 反射）
显示分离图像（荧光 · 反射）
对拍摄到的图像进行反射光成分图像与荧光成分图像分离
利用AI光谱图像处理算法，将拍摄的图像分离为反射光成分和荧光成分图像。结果，反射光成分图像显示为橙色，荧光成分图像显示为绿色。二者分别与反射光谱与荧光光谱的单色光一致。由此可知，此样品是橙色反射光和绿色荧光的混合，所以在白光下呈黄色。此外，通过反射图像和荧光图像可看出样品不同区域的光学特性（图像图案）差异。放大图像后可以看到，反射板的微细结构存在规律的间隔，其间隔宽度是200 μm。
主要功能
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| EEM View模式 （测定模式） | 三维荧光光谱的测定 |
| 单色光图像 | |
| 白色光图像 | |
| 预览图像 | |
| 数据处理 | 显示缩略图 |
| 显示三维荧光光谱（等高线，渐变图） | |
| 显示激发/发射光谱 | |
| 显示放大图像 | |
| 图像分区（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5） | |
| 计算、显示不同区域光谱（荧光、反射）*1 | |
| 显示分离图像（荧光、反射）*1 |
规格
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 照射波长 | 360 nm ～700 nm |
| 相机 | 彩色（RGB）CMOS传感器 |
| 接口 | USB3.0 |
| 有效像素数 | 1920 × 1200（H×V） |
| 可拍摄波长范围 | 380 nm ～700 nm |
配置示例
| 名称 | P/N（序列号） |
|---|---|
| F-7100荧光分光光度计 | 5J1-0042 |
| EEM View配件 | 5J0-0570 |
| R928F光电倍增管 | 650-1246 |
| 副标准光源 | 5J0-0136 |
介绍分光荧光光度计（FL）的测量实例。
介绍有关补正装置间机差的方法和去除散乱光的方法。
介绍使用固体样本保持器（可选）等离子体显示器的荧光光谱测量实例。
介绍以科技领域者为目标的日立科学集团的象征标志。
荧光分光光度计F-7100
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