上海泛彩图像设备有限公司
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Hanatek精密测厚仪用于非常精确地测量各种材料的厚度。预设符合ISO/ASTM/TAPPI/DIN标准，全量程准确度高于0.4 μm，分辨率0.1 或 0.01 μm。通过控制测量速度，压力和接触时间，测量结果准确可靠。提供高达500组自动测量数据的统计分析功能，可通过标签打印机输出报表。
FT3物理测试参数可以根据国际标准或客户要求进行配置。测量速度和驻留时间由用户定义的参数控制。提供的数据，统计分析。可选的打印机允许时间/日期标记的结果标签附加到工作表或保留的样品,简单的样品处理用户定义的例程或可选脚踏开关意味着免提操作、错误记录和结果分析、样品处理和测量技术。
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