筛选电子元器件冷热冲击试验箱 设备用途 适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的助手。 电子元器件冷热冲击试验箱 温度控制 可实现温度定值控制和程序控制; 全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯; 每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性; USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要; 采用流行的制冷控制模式,可以0%~99%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%; 制冷及电控关键配件均采用产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;
筛选电子元器件冷热冲击试验箱
设备特点 规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求; 设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容; 高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性; 工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长; 高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到zui小; 表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命; 高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性; 多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要; 大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果; 环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求; 电子元器件冷热冲击试验箱 设备执行与满足标准 1、GB/T2423.1-1989低温试验方法; 2、GB/T2423.2-1989高温试验方法; 3、GB/T2423.22-1989温度变化试验; 4、GJB150.5-86温度冲击试验; 5、GJB360.7-87温度冲击试验; 6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。 7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式 8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式 9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化 10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则 11、GB/T 2423.22-2002温度变化 12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则 13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 筛选电子元器件冲击试验箱 安装条件 使用条件 | | 1. 安装场地 | 设备周围留有适当空间:设备四个面至少流出0.8米以上用于维修、保养过道。 地面平整、通风良好 设备周围无强烈振动 设备周围无强电磁场影响 设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘 | 2. 环境条件 | 温度:5℃~35℃ 相对湿度:40%RH~90%RH 气压:86kPa~106kPa | 12.3. 气源(压缩空气) | 压力:(5~7)kg/cm2 连接管口径:φ8mm 流量:0.1m3/min | 12.4. 供电条件 电源 | AC380V 三相四线+保护地线 电压允许波动范围:AC(380±38)V 频率允许波动范围:(50±0.5)Hz 保护地线接地电阻小于4Ω;TN-S方式供电或TT方式供电 要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关,并且此开关必须是独立供本设备使用 | zui大电流 | 32A |

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