束伦（上海）技术服务有限公司
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性能指标二次电子像分辨率高加速：0.8nm@15.0kV(GB)低加速：1.2nm@1.0kV(GB)极低加速：3.0nm@0.1kV(GB)分析：3.0nm@15kV,5nA,WD10mm
性能指标
二次电子像分辨率
主要应用
该电镜及其附件主要用于各种材料的最细微纳米结构的观察，能够在低电压下为高磁性样品成像和分析，GB和GBSH模式可减少非导电样品上的电荷，减少对高分辨成像的镜头像差影响，得到不导电样品的高分辨图像。
样品要求
仪器说明
JSM-7800F具有浸没式肖特基电子枪；超级混合式物镜 : SHL；用新型探测器过滤电子能量。
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