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两用涂层测厚仪

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更新时间：2023-03-20 10:00:57浏览次数：161次

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广州英鹏光电科技有限公司

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产品简介

用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。

详细介绍

用于测定材料本身厚度或材料表面覆盖层厚度的仪器。有些构件在制造和检修时必须测量其厚度，以便了解材料的厚薄规格，各点均匀度和材料腐蚀、磨损程度；有时则要测定材料表面的覆盖层厚度，以保证产品质量和生产安全。根据测定原理的不同，常用测厚仪有超声、磁性、涡流、同位素等四种。超声波测厚仪超声波在各种介质中的声速是不同的，但在同一介质中声速是一常数。超声波在介质中传播遇到第二种介质时会被反射，测量超声波脉冲从发射至接收的间隔时间，即可将这间隔时间换算成厚度。在电力工业中应用的就是这类测厚仪。常用于测定锅炉锅筒、受热面管子、管道等的厚度，也用于校核工件结构尺寸等。这类测厚仪多是携带式的，体积与小型半导体收音机相近，厚度值的显示多是数字式的。对于钢材，测定厚度达2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之间。磁性测厚仪在测定各种导磁材料的磁阻时，测定值会因其表面非导磁覆盖层厚度的不同而发生变化。利用这种变化即可测知覆盖层厚度值。常用于测定铁磁金属表面上的喷铝层、塑料层、电镀层、磷化层、油漆层等的厚度。涡流测厚仪当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。同位素测厚仪利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。

三种测量模式选择界面		中/英文选择界面	μm/mil单位选择界面
测头	红宝石固定
测量原理	Fe:霍尔效应/NFe:电涡流
探头类型	外置连线式
测量范围	0.0-2000μm
分辨率	0.1μm:(0μm-99.9μm)
	1μm:(100μm-999um
	0.01mm:(1.00mm-2.00mm
测量精度	≤±(3%读数+2μm)
单位	μm/mil
测量问隔	0.5s
最小测量区域	0=25mm
最小曲率半径	凸面：5mm/凹面：25mm
最小基体厚度	Fe:0.2mm NFe:0.05mm
显示	128×48点阵LCD
供电方式	2节1.5VAAA碱性电池
工作温度范围	0℃-50C
存储温度范围	-20℃-60℃
主机尺寸	1016228mm
探头尺寸	712622mm
重量（含电池）	114g
产品依据标准	GB/T4956-2003磁性基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性法 GB/T4957-2003非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度测量-涡流法 DIN EN IS02808涂料和清漆漆膜厚度的测定 JJG-818-2005磁性、电涡流式覆盖厚度测量仪检定规程