苏州飞沃特仪器设备有限公司
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梅特勒托利多XP系列超微量天平
特点：
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
●GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量
●标配CarePacS®，用于天平的日常测试，确保获得准确称量结果
技术指标：
| 型号 | 称量值（g） | 可读性（mg） | 重复性（sd）(mg) | 线性误差（mg） | 典型稳定时间（S） | 秤盘尺寸∅（mm） |
| XP2U | 2.1 | 0.0001 | 0.00025 | 0.0015 | 10 | 16 |
| XP6 | 6.1 | 0.001 | 0.0008 | 0.004 | 7 | 27 |
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