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产品名称:Hommel粗糙度轮廓仪-T80OOSC产品详情:使用高分辨率数字式探测系统同时记录粗糙度参数和轮廓特征值,并且在一个流程中进行评价
产品名称:Hommel粗糙度轮廓仪-T80OOSC
产品详情:
使用高分辨率数字式探测系统同时记录粗糙度参数和轮廓特征值,并且在一个流程中进行评价。因此,该测量系统为测量室和加工现场的高要求测量任务提供了较好的解决方案。此系统性价比,应用广泛,性能堪与复杂的实验室测量系统媲美。
Hommel粗糙度轮廓仪-T80OOSC系统特征:
1. 通用测量站,既可用于测量室,也可用于生产现场的质量检验
2. 模块化设计,可进行量身定做的个性化测量站配置
3. 可交互操作的软件,在一份个性化设计的测量报告内组合评价粗糙度和轮廓特征值
4. 粗糙度和轮廓共用一个探测系统
5. 由于量程大,无需将探测系统和工件表面对齐
6. 测量斜面和曲面粗糙度时,6 mm量程内具有 6 nm 分辨率
7. 测头臂配置磁性支架,更换快速且安全
8. 粗糙度和轮廓评价软件具有广泛的选项功能
9. 可配置其它探测系统拓展应用范围,如配置wavecontour™ digital / digiscan 探测系统放大轮廓量程,或配置粗糙度测头用于特殊的粗糙度测量
Hommel粗糙度轮廓仪-T80OOSC技术亮点:
1. 同时测量粗糙度和轮廓,节约时间
2. 重复精度高
3. 测量粗糙度时省却了耗时的基准面对齐步骤
4. RFID 技术保证了测头臂的自动识别和测量参数的正确设置
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