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日本电子冷场发射透射电镜 JEM-F200

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具体成交价以合同协议为准

产品型号JEM-F200

品       牌

厂商性质其他

所  在  地武汉市

更新时间:2024-02-11 11:25:24浏览次数:40次

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经营模式:其他

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所在地区:

联系人:王先生

产品简介

2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200

详细介绍

2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。

为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为:

1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受;

2) 四级聚光镜设计:为了发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制;

3)扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS;

4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动;

5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性;

6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析;

7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度;

8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。


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