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差分静电迁移率分析仪差分粒子电迁移器)被广泛用于气溶胶颗粒物的分离,DEMC又名DMA (Differential Mobility Analyzer.静电迁移...
尘埃粒子计数器PZG系列,采样量 100 LPM,可以得到灵敏度0.3 μm . (或者: 28.3 LPM = 1.0 CFM, 灵敏度可达0.2 μm). ...
通用型滤材测试系统不同系统配置可用于测试滤料、小型过滤元件、高效过滤器、一般通风过滤器、压缩空气过滤器、车用空气过滤器及油雾分离器等,特殊配置可满足高温、高湿条...
无掩膜曝光机美国IMP(Intelligent Micro Patterning,LLC)公司凭借多年的光刻设备生产经验和多项无掩模曝光技术,已成为无掩模紫外光...
粒子计数和粒径分布可以同时得到,互不干扰.这是高精度气溶胶粒径谱仪1的 重要的要求. 新型的T型孔传感器技术,*次解决了消除边缘效应和重叠粒子计数,使高 浓度气...
四袋电子束蒸发器Beam Evaporator is an UHV evaporator for small and medium quantities of ...
俄歇电子能谱仪(在线表面分析)The microCMA is a compact (2.75“ CF mount) cylindrical mirror typ...
离子束抛光系统磁隧道结介电界面涂层Rugate FiltersHigh-k 材料形状记忆合金光电材料超导材料单一结晶GaN
脉冲激光沉积系统(PLD)靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume状等离子体状态,然后被堆积到设在对面的基板上而成膜。PLD方法可以获得拥有热力学理论上准稳定...
此系统致力于烟雾的研究,广泛应用在各国的烟火研究分析实验室,专业分析高标准滤材。 某些特殊行业需要超高洁净度,对滤材要求高,例如核研究,制药车间,半导体超净室等...
该ALD拥有达到或超过市场上其他品牌的功能,同时易于使用和维护 - 成本低于当今市场上的价格腔室温度:室温到325°C±1°C;前...
动态TOF-SIMS系统,它使用直流主束的飞行时间分析仪,创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集(即没有单独的蚀刻周期),同时提...
轮廓仪为了终应用来选择佳涂层或基底材料,客户有必要不仅仅检测摩擦系数,也需要检测磨损速率。磨损速率测量可以提供可靠的结果,这可以允许客户来决定手否样品能够达到应...
便携式粒径谱仪具有稳定的输出和更长的使用寿命。所有系统包括一个可插入式过滤器(直径47或50毫米)的接口。因此进行气溶胶组成成分的化学分析也是可能的。
粉体、散装物料、颗粒、颗粒等在生产、运输和充填过程中会产生粉尘,这些粉尘会对职业安全和生产的可靠性产生负面影响。此外,灰尘污染环境,在生产损失中起着不可忽视的作...
idas Frog允许快速、可靠和有质量保证地确定细粉尘,例如在工作场所健康、安全和环境(HSE)管理范围内(暴露评估)或在室内空气质量测量范围(例如办公室、公...
差分静电迁移率分析仪差分粒子电迁移器)被广泛用于气溶胶颗粒物的分离,DEMC又名DMA (Differential Mobility Analyzer.静电迁移...
尘埃粒子计数器PZG系列,采样量 100 LPM,可以得到灵敏度0.3 μm . (或者: 28.3 LPM = 1.0 CFM, 灵敏度可达0.2 μm). ...
通用型滤材测试系统不同系统配置可用于测试滤料、小型过滤元件、高效过滤器、一般通风过滤器、压缩空气过滤器、车用空气过滤器及油雾分离器等,特殊配置可满足高温、高湿条...
无掩膜曝光机美国IMP(Intelligent Micro Patterning,LLC)公司凭借多年的光刻设备生产经验和多项无掩模曝光技术,已成为无掩模紫外光...
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