半导体器件载带光学检测iOI
设备说明:
由深圳视觉龙科技开发的承载带外观质量检测设备采用了高速数字相机和处理器,在线连续检测速度可达300米/小时,运用LED光源系统和强大的PC式图像处理及分析软件,可有效的检测承载带(Carrier Tape)的多种缺陷。
检测内容及指标:
检测包装带(Carrier Tape)的表面缺陷和成型不良,主要内容有:成型不良、穿孔、刮痕、油污、尺寸超差等缺陷。
采用640x480像素或更高分辨率数字相机,视场大小64mmx48mm或更大,可以保证每幅图片200ms以内的处理速度,测量重复精度好于±0.1mm.亦可以根据不同的客户需要改装定制。
典型不良:

系统配置:
? 高速CCD摄像头、镜头、LED组合光源、光源控制器等视觉器件;
? 工控机:>3.0G CPU,2048M 内存,160G硬盘,19 LCD显示器等;
? 机械结构部分(包括机台,收放料系统、相机及光源固定及调整机构等)和电控箱(电机、传感器和转换电路等);
? 应用软件包及运行许可证及WindowsXP 运行环境+SP2;