菲希尔膜厚仪XDL MYZ,由金霖电子,厂价供应,
菲希尔膜厚仪XDL MYZ,仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量,可测量:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
zui多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。
让客户满意,为客户创造zui大的价值是金霖始终追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!:谢 : 29371653 :
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