芯片高低温交替测试箱 返回列表页

芯片高低温交替测试箱

常温ß----->150℃ 约35分钟（非线性空载，约3.5℃/分钟）

常温ß----->-20℃ 约38分钟（非线性空载，约1.0℃/分钟）

型号：SMB-150PF

工作室尺寸: 500*600*500mm （W×H×D）

外箱尺寸（约）: 750*1224*1615 mm （W×H×D）

温度:-20℃～150℃

湿度:20%～98%RH

芯片高低温交替测试箱

规格:

• 显示器:256X128点、30行X40字的LCD液晶显示荧屏
• 精度:温度±0.1℃＋1digit 、湿度±1%RH＋1digit
• 分辨率:温度±0.1,湿度±0.1%R.H.
• 温度斜率:0.1～9.9可设定
• 温湿度入力信号:PT100Ω×2（干球及湿球）
• 温度变换出力:-100～200℃相对于1～2V
• 湿度变换出力: 0～100%RH相对于0～1V
• P.I.D控制出力:温度1组、湿度1组
• 电源:AC85V～264V
• 资料记忆保存EEPROM(可保存10年以上)
• 

部件配置清单

装箱配件:

1．测试箱内设有高度可调之轨道架4条.

2 2.不锈钢条制作置物架2个.

3 3.标准测试用不织布10片

4 4.说明书,控温仪表说明书各1份.

5.*书 交货时提供一份.

6.订货规格书 订货时提供一份.

7.使用说明书 交货时提供一份.