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集成电路高低温冷热冲击试验箱

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更新时间:2021-04-18 09:31:01浏览次数:220次

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简要描述:集成电路高低温冷热冲击试验箱适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

适用于电子元气件的安全性能测试提供可靠性试验、产品筛选试验等,同时通过此装备试验,可提高产品的可靠性和进行产品的质量控制。

集成电路高低温冷热冲击试验箱

内箱尺寸:

容积(单位:L)

工作室尺寸(D*W*H)mm

外型尺寸(D*W*H)mm

TSD-50F-3P

450×450×500

930×1700×1650

温度范围:

温度范围

A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃

温度波动

高温室与低温室均≤±2℃

样品区温度波动

≤±0.5℃(恒温时)

样品区承重

20㎏、30㎏、50㎏

安装场地

地面平整,通风良好
  设备周围无强烈振动
  设备周围无强电磁场影响
  设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘

设备周围留有适当的使用及维护空间,如图所示:

A:不小于60cm

  B:不小于60cm
  C: 不小于120cm
  注:(设备倾斜角度不能超过15℃

集成电路高低温冷热冲击试验箱

售后服务承诺

  一 .设备免费保修24个月,并免费提供三次季度保养。24个月后如出现故障,我公司实行终身维修,只收取维修成本费。

  二 .新机到厂后,我司提供设备之安装和教育训练,培训时间为1-2个工作日完成。其它非本公司设备及管路由贵厂方负责配合施工。

  三 .维修服务:一般维修为客户通报本公司售后服务部时起24小时内到厂,紧急维修为客户通报本公司售后服务部时起12小时内到厂。维修备份零组件五年以上库存。

注:以下非本公司免费保固和保养范畴

  1:使用不慎或错误而导致之机台损坏。

  2:自行检修改装及不当之移动。

  3:因天灾等恶劣环境所造成的不可预估之损坏或故障。 



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