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博曼x射线荧光膜厚仪

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更新时间：2017-01-08 00:25:25浏览次数：483次

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产品简介

博曼x射线荧光膜厚仪采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。

详细介绍

博曼x射线荧光膜厚仪软体说明：
* 电脑操作系统 XP系统
* 测量膜厚元素范围：元素周期表13—92号元素间的所有镀层，
使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次，zui多可以测量四层（加基材zui多五层）
* 仪器支持二种镀层厚度计算方法
（1）、无标准片的FP法（Fundamental Parameter）全新数学计算方法。
FP法名词解释：即在没有标准块的前提下，一样能精确测量，此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息，通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数，以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块，因此它不受标准块的限制，在没有各种合金镀层标准块的情况下样精确的测量各种二元、三元合金镀层）到目前为止，bowman是世界上*可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌，此技术已使用了17年。
（2）、支持传统的带标准块的检量线法，即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。

博曼x射线荧光膜厚仪是利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
采用新改进的基本参数法，无论是无标准片测量还是有标准片测量，都能快速并且准确的获得测量结果。为了简化样品放置，X射线源和数字半导体接收器置于了 BA100 的底部，从而可以采用射线向上的测量技术。
可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。