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荧光X-reg射线镀层测量仪

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更新时间：2017-07-26 18:27:13浏览次数：394次

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山东精科实业商贸有限公司

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产品简介

可以进行元素分析，也可测量镀层厚度，与薄膜FB法配合使用时，可以不使用标准样品，就可以进行元素分析及镀层测量。

详细介绍

荧光X-reg射线镀层测量仪

元素分析￡镀层测量

产品说明：

SEA5100采用Si（Li）半导体检测器，使之测量分辨率大大提高，弥补了用比例计数管检测时有些元素难以区分的不足，配备有小型准直器，不仅可以进行元素分析，也可测量镀层厚度，与薄膜FB法配合使用时，可以不使用标准样品，就可以进行元素分析及镀层测量。标准配备有Windows2000中文操作界面，采用捡量线法和FP法，测量数据与Word和Excel链接，自动生成报告和数据处理，2个准直器可自动切换，工作台3维电动，可编程进行自动测量。

产品规格：

可测元素：	Za-u	定性功能：	KLM标示、ROL设定
检测器：	Si（Li）半导体检测器	元素分析：	自动辨别测量
准尺器：	2个（自动设定）	应用功能：	用户自动设定
滤波器：	一次滤波器（自动设定）	自动测量：	三维电动控制
样品观察：	CCD摄像机	数据处理：	MX-EXCEL搭载
测定软件：	薄膜FP法、检量线法	报告生成：	MS-WORD搭载