电子产品高低温冲击试验箱

电子产品高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。

内容积50L 跟多型号规格可联系

内箱尺寸400 *350 *350mm   　 (W* H *D)

外型尺寸(约)1350*1900*1650mm     (W* H *D)

重  量约900㎏

测试室温度范围：-40℃～+150 ℃ (风冷式)

预热温度范围RT～+165℃

升温时间+50℃→+165℃ ≤30min注：升温时间为高温室单独运转时的性能

预冷温度范围RT～-55℃

降温时间+20℃ → -55℃≤约60min注：降温时间为低温室单独运转时的性能

三厢式冷热冲击试验箱的结构特点:

1. 产品外形美观、结构合理、工艺*、选材考究。 

2. 设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物静止，应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

3. 采用触控式液晶（LCD）显示人机介面控制器，计测装置, 操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。 

4. 具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59zui大分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，zui大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。 

5. 箱体左侧具有50mm之测试孔1个，可供外加电源负载配线测试部件。

6. 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。