清洁度分析系统BH-CIA500
显微镜
BAHENS光学显微镜（ISO16232规定），放大50倍-500倍，既可做清洁度检测。
检测内容
▪ 杂质平面尺寸
▪ 杂质高度
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
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BAHENS光学显微镜（ISO16232规定），放大50倍-500倍，既可做清洁度检测。
▪ 杂质平面尺寸
▪ 杂质高度
▪ 杂质数量
▪ 杂质形状分类：颗粒或纤维
▪ 杂质性质分类：反光（金属），亚光（非金属，金属氧化物）
▪ 支持多种聚焦模式：补偿聚焦、跟踪聚焦、手动聚焦、EFI聚焦等。
▪ 采用的聚焦算法，保证在试样不够平整的情况下也能得到清晰的图像；
▪ 新精确模式可以轻松辨认原本会产生误判的亚光色金属颗粒（绿色包围部分），用偏振光照射，记录在两个情况下进行比较，然后用于准确区分金属和非金属颗粒。
▪ 目镜：大视场双目观察，观察视域大而舒适。
放大倍数10倍，视场指数22毫米，三目镜筒55-75mm可调瞳距。
▪ 物镜：高性能高反差平场物镜，镀膜防霉。
5X，10X，20X,50X
▪ 系统自动识别颗粒、自动分析颗粒类别、自动统计颗粒参数。同时支持修改颗粒。
▪ 提供多种统计分析工具：MAP图、颗粒列表、统计结果、直方图等；
▪ 支持模板化报告生成模式，包含统计数据、评级、滤片全貌图、颗粒照片等信息；
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