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美国BOWMAN(博曼)线路板膜厚测试仪
【简单介绍】
【详细说明】
.X射线荧光测量技术,在膜厚仪行业中已属成熟,美国博曼在该行业中数*,拥有成熟*的测厚仪技术,在同类进口膜厚仪中 ,具有很高的价格性能比与服务优势,博曼BA100X-ray膜厚仪:又称X射线荧光镀层测厚仪,是一款设计紧凑灵活、功能强大的膜厚仪,可以满足各个行业中对质量保证和过程控制的要求,可测量.单层.双层,合金层等多种镀层。分析元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素,应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
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