程序简便、操作可靠
您是否正在寻找一款能够完成复杂任务、生成可靠检测结果且易于操作的显微镜？那么用于偏光显微观察的智能型 Axio Imager 将是您的满意之选。
自动组件识别技术值得信赖
自动组件识别（Automatic Component Recognition ACR）技术，使您方便的使用显微镜设置。所有电动主机架能够自动识别物镜。此外，ACR 技术还能在全电动 Z 系列主机中识别反射光模块。系统能自动对组件的变换进行登记。
无振动设计确保可靠的长时间成像
借助 Axio Imager 出色的稳定性得以实现可随时间变化的测量和高放大倍率观察。物镜转盘、z 轴升降台和载物台被设计为一个紧凑式无振动单元，独立于主机架的其余部分。这种所谓的 "stable cell" 结构设计能够创建理想的测量条件，以获得超高质量的观测结果。
扩展功能令操作更舒适
- 简化复杂程序。通过主机架或外置工作站上的触摸屏来控制全部电动化组件。
- 保存个性化设置并实现一键还原。聚焦操作方便直观 – 符合人体工程学设计的触控式按钮。
- 或者通过任意摆放的控制面板（可与主机架分离）来操作偏光显微系统。观察方式和光路管理器能够自动选择合适的设置，以生成可重现且可靠的观测结果。
锥光观察技术：使用偏光显微镜可以实现快速可靠的晶体结构分析
偏光显微镜能够同时采集无畸变的和锥光的图像信息。采用特殊设计的偏光镜筒通过辅助中间像平面可以使物体、十字准线和可变光阑同时可见。通过调节型可变光阑能够将锥光观测范围缩小至 10μm 的晶体粒度。已对中的 Bertrａnd 光路方便开关。这一特性让您在不同技术之间进行快速切换 – 甚至在采集图像或使用视频设备时。
始终如一的测量性能
- 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游标尺的旋转、球轴安装式载物台可以轻松实现测量，（例如：用于测量矿物的解理角）
- 光程差测定或应变测量
大量光谱补偿器可选，涵盖从 0 至 30 λ 的测量范围。
固定光程差的补偿器
- 全波片 λ
- 四分之一波片 λ / 4
- 全波片 λ，可旋转角度 +/- 8°
具有可变光程差的补偿器
- 光楔补偿器 0-4 λ
- 测量补偿器
- Berek 倾斜补偿器 0-5 λ
- Berek 倾斜补偿器 0-30 λ
Axio Imager 还可提供更多方法，例如：
- 热显微技术
- 使用蔡司 AxioVision 软件进行数字分析（例如：晶粒度分析或颗粒度分析）
