CST-50冲击试样缺口投影仪 返回列表页

一、产品说明

 CST-50型冲击试样缺口投影仪我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-2007 《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。是理化试验室的专用设备

二、技术参数

1.投影屏直径：          180mm

2.工作台尺寸：

方工作台尺寸：    110×125mm

圆工作台直径：      90mm

工作台玻璃直径：      70mm

3.工作台行程：

纵向：        ±10mm

横向：        ±10mm

升降：       ±12mm（无刻度）

4.工作台转动范围：      0~360°（无刻度）

5.仪器放大倍率：         50X

物镜放大倍率：           2.5X

投影物镜放大倍率：           20X

6.光源（卤钨灯）：     12V 100W

7.电源：        220V    50Hz

8.外形尺寸：       515×224×603mm（长×宽×高）

9.重量：            约18Kg

三、主要配置：

1.投影仪主机  一台

2.底座调整钮  四个

3.电源线      一根

4.卤钨灯      二个

5.平板玻璃    一块

※更多详细参数、配置、选型、价格、货期等请致电.购买请认准〖时代新光〗品牌※

冲击试样低温槽