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KA-BX41金相显微镜

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更新时间：2021-08-17 09:04:27浏览次数：237次

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产品简介
适合于金属材料、半导体器件、磁头、PCB钻孔切片、引线框架等电子部品的检查

详情介绍

适合于金属材料、半导体器件、磁头、PCB钻孔切片、引线框架等电子部品的检查。具备UIS2光学系统，是DIC和荧光观察的理想选择。紧凑的Y型匀设计，使操作舒适。

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