原子力显微镜纳米热分析模块 返回列表页

        瑞宇科技的AFM+多功能原子力显微镜和NanoIR纳米红外光谱成像显微镜是一种可通过扩展多种模块实现纳米级别空间分辨率基础上的热力学、力学、电学和磁学分析的强大仪器系统，其中，纳米热分析模块（简称NanoTA）就是一种热力学分析仪器。

        瑞宇科技的纳米热分析模块使用具有特别技术的耐高温特种探针可实现探针自加热，对样品表面的微区进行加热，样品表面微区加热后发生热膨胀，使得探针信号偏转，当样品达到临界温度时会发生软化，从而造成探针偏转信号突变，进而获得样品的转变点温度。

        利用这一功能，使用瑞宇科技的纳米热分析模块能够得到样品的熔融点温度、玻璃化转变温度及特定区域的温度扫描成像图，能够提供异质材料如共混物/混合物/多层膜的局部热分析鉴定，从而为研究人员提供更全面的分析信息。

        瑞宇科技的纳米热分析模块可与原子力显微镜结合实现扫描热显微镜（SThM）功能，从而允许纳米级相对温度成像或热传导率成像，

                                                                PA6PET共混物的微区纳米热分析

主要参数：

工作温度：室温～400℃（取决于探针）

升温速录：600000℃/min

温度分辨率：0.1℃

空间分辨率：10nm～100nm

应用：

材料研究

有机物及生物材料研究

聚合物多相分离研究

晶体突变研究

事故原因分析

界面微区研究

催化剂研发