苏州恒测新材料有限公司
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| 仪器照片 | |
| 仪器名称 | 场发射透射电子显微镜 |
| 仪器型号 | Tecnai G2 F20 |
| 生产厂家 | 美国FEI公司 |
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仪器简介 | Tecnai G2 F20是一个真正多功能、多用户环境的200 kV工具。它以其将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、Lorentz透镜、STEM、EDX/EELS频谱成像等)方便灵活地有机组合, 形成强大的分析功能, 而在同类型仪器中。任务导向型用户界面和自动采集数据功能, 使用户从必须首先成为电镜专家才能获得理想结果的压力中解放出来, 使他们专注于自己的研究工作。Tecnai G2的“一体化"概念允许在不同的操作模式和数据采集技术之间快速切换, 切换过程中系统自动调回所有相关的操作设置。 |
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技术参数 | 加速电压：200 kV 很大放大倍数：105万倍 点分辨率：0.24 nm 线分辨率：0.14 nm STEM (HAADF)分辨率：0.19 nm 电子束能量色散：<0.7 eV 很大束流：>100 nA 1 nm束斑很大束流：>0.5 nA 样品很大倾斜角：±40° 能量分辨率：~130 eV (Mn K线) EDAX能谱仪 (EDS)：5B~92U |
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设备功能 | 主要用于无机材料微结构与微区组成的分析和研究，仪器的功能包括： 1、电子衍射：选区衍射、微束衍射、会聚束衍射 2、成像：衍衬像（明、暗场像）、高分辨像 (HREM)、扫描透射像（明场像) 3、微区成分：EELS和EDS能谱的点、线和面分析 4、微区化学：EELS的元素价态、化学键、配位结构和电子结构分析 |
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应用领域 | 材料范围：除磁性材料之外的任何无机材料，包括粉体、薄膜和块材；不适用于有机和生物材料 表征范围：微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等 |
| 检测案例一 （形貌） |
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| 检测案例二 （高分辨） |  |
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检测案例三 (Mapping) | |
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送样要求 | 建议提供文献图片或者以前做过的图片，如果没有，检测要求需详细填写。样品可提供20张左右图片：即筛选出三个比较好的区域，每个区域提供3-4张不同放大倍数满足测试要求的图片，对于找不到符合测试要求的区域的样品，我们将会多拍一些区域以证明样品的真实情况！寄送样品质量大20 mg。 |
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