苏州工业园区浩高电子科技有限公司
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产品介绍失效分析是在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义，是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动
失效分析是在提高产品质量，技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义，是根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。
我们为客户提供的电静检测分析服务为：场发射环境扫描电子显微镜、钨灯丝扫描电子显微镜、冷场发射扫描电子显微镜、透视电子显微镜、场发射透射电子显微镜。
型号：Tecnai G2 F20 S-Twin
厂家：美国FEI 公司
主要用途：
1.该电镜是一台功能强大的材料分析型电子显微镜，广泛应用于生物、医药、化工、金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域，可对材料的粒度、形貌、成分、内部结构和缺陷进行分析；
2.其配备的STEM/HAADF附件可以成和原子序数相关的像，和能谱仪结合还可以很方便的测量样品微区元素的线分布和面分布，对于高分辨像的解析非常有利
3.像素高达2K×2K的CCD可以及时将电子显微像转换成数字照片进行输出，方便用户。
主要配置：
Gatan 894 CCD（2K×2K）
STEM/HAADF探测器
美国EDAX能谱仪
低剂量曝光
单倾样品杆、双倾样品杆、低背景双倾样品杆
性能指标：
1.场发射电子枪
2.加速电压：20-200 kV连续调节
3.放大倍数：25-1,000,000
4.点分辨率：0.24nm
5.线分辨率：0.102nm
6.信息分辨率:≤0.14nm
7.STEM分辨率：0.20 nm
8.STEM放大倍数:200-100,000,000
9.EDS分辨率:优于136 eV，分辨元素范围B5-U92
10.MAX样品倾角：±40°
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