北京埃纳科技有限公司
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测量原理测试时一束平面偏振光照在样品表面上，由加强型且稳定的发光二极管LED发出的光束经过一个偏振片形成偏振光
测量原理
测试时一束平面偏振光照在样品表面上，由加强型且稳定的发光二极管LED发出的光束经过一个偏振片形成偏振光。由于磁光克尔效应，反射光的偏振面会发生一定偏转，偏转大小取决于磁畴磁化方向，并且通过分析手段可以转化为对比参数。低分辨率的显微镜的光束入射角固定为 30°。利用横向和纵向的磁光克尔效应可以分析成像，放大倍数可以通过调节设备上的变焦器件控制。高分辨率显微镜中，通过选择不同的照明LED灯（显微镜采光平面中特定区域成像），可以调节磁光克尔效应的敏感方向。
Evico磁光克尔显微镜和磁强计是一款的设备，可以用来观测多种磁性材料的磁畴、磁化过程以及记录磁化曲线，如块体材料、带状材料、磁性薄膜、多层膜、图样薄膜、以及微米-纳米线等。整个测试系统是半自动、零接触、无损伤的。下图为光路示意图：
该系统提供两套显微镜系统供选择（Ⅰ）标准显微镜 （Ⅱ）高分辨-概览复合显微镜。
（Ⅰ）标准显微镜 （Ⅱ）复合显微镜
标准显微镜具配置有高质量的光学镜头，且有很高的机械稳定性，适用于100um-5mm范围内的磁畴成像，分辨率达到光学极限200nm。
复合显微镜系统是更加灵敏的设备，组合了两套显微镜：（Ⅰ）低分辨显微镜，适用于较大区域的磁畴总览，30cmX30cm-8cmX8cm。（Ⅱ）高分辨率的显微镜的测试范围和分辨率和标准型显微镜是一样的，即直径5mm的区域和200nm的分辨率。该系统同时配置了两种显微镜，可以按照需要任意选择。
任意一种显微镜系统都有图像处理功能来使对比增强。配备的CMOS相机；成像时间分辨率可达5ns;可以施加任意方向的外加面内磁场；面外磁场可根据需要选配；。
安装实物图
的图像处理技术
的Kerr LED灯 矢量成像
磁铁及其它选件
应用示例
实时记录磁化过程
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