详细摘要： HDO4000系列示波器应用力科的HD4096技术，结合长存储深度、紧凑轻巧的结构设计、12 1"多点触摸 显示屏和强大的调试软件工具，提供给客户精确测量和快速...
产品型号：HDO4000A所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言深圳市云帆兴烨科技有限公司
深圳市云帆兴烨科技有限公司
详细摘要： HDO4000系列示波器应用力科的HD4096技术，结合长存储深度、紧凑轻巧的结构设计、12 1"多点触摸 显示屏和强大的调试软件工具，提供给客户精确测量和快速...
产品型号：HDO4000A所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： Spirent TestCenter支持性能且最真实的无线局域网（WLAN）多客户端仿真，可对AP进行直接的功能和性能测试
产品型号：C50所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： Spirent TestCenter支持性能且最真实的无线局域网（WLAN）多客户端仿真，可对AP进行直接的功能和性能测试
产品型号：C50所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 该产品资料描述了GSS7000多频率、多GNSS RF模拟解决方案的功能，并提供了相关的技术数据和配置信息。
产品型号：GSS7000系列所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： GSS9000系列可为GNSS开发人员提供的性能，灵活性和能力，能够在妥协的情况下实现的性能。
产品型号：GSS9000系列所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 在基于计算机的系统的单个设备中提供模拟I O、数字I O以及计数器 定时器功能的组合。
产品型号：PCIe-6341所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 4200-SCS系统是用于器件、材料和半导体工艺电气特性分析的完整解决方案
产品型号：4200所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 可在绝缘栅双极晶体管（IGBT），功率MOSFET，二极管和其他双极器件之类的半导体器件上执行无损瞬态测量
产品型号：ITC57300动态参数测试系统所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： LabVIEW提供了图形化编程方法，可帮助您可视化应用的各个方面，包括硬件配置、测量数据和调试。 这种可视化可帮助用户轻松集成任何供应商的测量硬件、在程序框图上...
产品型号：LabVIEW所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 通过在线测量和实用的嵌入式设计提供基于项目的学习体验
产品型号：NI ELVIS所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： PXI机箱包含了PXI模块和控制器，并将它们连接到一个用于提供定时和同步功能的高性能背板。PXI机箱可兼容PXI、PXI Express和PXI混合模块。
产品型号：PXI机箱所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： PXI源测量单元(SMU)将高精度源和测量能力与旨在减少测试时间、增加灵活性的特性相结合。这些特性包括用于构建并行SMU测试系统的高通道密度、用于最小化软件开销...
产品型号：PXIe-4135所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 数字I O设备提供各种通道、电流和电压选项，方便您找到应用需求的选项。它们提供高可靠性的功能，即使应用要求苛刻，也可完成自动化。
产品型号：USB-6501所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： PXIe，6½位，±300V，板载1 8 MS s隔离数字化仪，PXI数字万用表—PXIe4080是一款高性能6½位300 V DMM，提供了两种...
产品型号：PXle-4080所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： USB、包括分析仪软件、IEEE 488 GPIB仪器控制设备—GPIB-USB-HS+是一款IEEE 488控制器和便携式分析仪，适用于采用USB插槽的计算机...
产品型号：GPIB-USB-HS+所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： PXIe-5840是具有1 GHz瞬时射频带宽的第二代PXI矢量信号收发仪(VST)。VST结合了一个矢量信号发生器、矢量信号分析仪、高速串行接口和基于FPGA...
产品型号：PXI-5840所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： 耐压测试是电气安规测试中最主要的项目之一，所有的电气元件及产品，包含变压器、电容、电源供应器、充电器、家电产品等，皆需要进行耐压测试。
产品型号：19020所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： Chroma 19501-K 局部放电测试器结合高电压耐压测试与局部放电(Partial Discharge)侦测功能于一单机
产品型号：19501所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言
详细摘要： Chroma 19055 耐压分析仪为针对耐压测试与分析所设计的设备。
产品型号：19055所在地：深圳市更新时间：2024-12-01 在线留言您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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