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具体成交价以合同协议为准
【简单介绍】
【详细说明】
不仅做动态老化,还具备DUT(受测器件:Device Under Test)的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视,防止筛选漏网,主要试验对象为SDRAM,SRAM等内存类,CPU,ASIC,系统LSI等逻辑装置,也对应各种MOS形的IC。
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半导体老化试验室[BIC]
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