BOWMAN（博曼）X射线荧光电镀膜厚仪

博曼测厚仪，美国*，在同类进口测厚仪中更具有优越的测试性能，*科学技术，配备半导体接收器，不同于传统PC比例接收器，要求（温度18℃～25℃ 湿度60％）且测试分辨率高 可测到0.25mm

博曼测厚仪，美国*，在同类进口测厚仪中更具有优越的测试性能，科学技术，配备半导体接收器，不同于传统PC比例接收器，要求（温度18℃～25℃  湿度60％）且测试分辨率高  可测到0.25mm。可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上，拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。