日本电子扫描电镜JSM-IT300
高质量观察 细微结构的进一步观察
▪ 全新电子光学系统的高质量成像
▪ 新差动排气系统扩大了低真空压力范围
高通量 的快速处理能力支持新一代操作环境
▪ 操作直观的触控屏界面
▪ 高通量样品室
▪ EDS 集成化，一触式分析。
高扩展性 多接口扩展了分析范围
▪ 多用途样品室
▪ 丰富的选配件
EDS、双 EDS 探测器、WDS、EBSD 等多个预备接口。
产品参数
产品编号: 日本电子扫描电镜JSM-IT300所属品牌: 日本电子产品型号: JSM-IT300 额定功率：按实际方案提供所属类别: 扫描电镜所属用途: 显微观察应用领域: 所有工业领域产品特性: JSM-IT300扫描电子显微镜经过改进照射系统、真空系统和信号处理系统，不仅能观察高质量的图像，还能利用触控屏和快速样品台进行高通量的直观操作。JSM-IT300 提供高画质图像，能满足您对W-SEM机型的期待，新的镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有了显著的提高。下载相关资料-
全新电子光学系统的高质量成像
JSM-IT300 提供高画质图像，能满足您对 W-SEM 机型的期待，新的镜筒设计和扫描系统使得不导电样品的图像质量有了显著的提高。
二次电子像
通过高真空二次电子像观察到的蝴蝶鳞粉。可以用更高的分辨率观察微观结构。
背散射电子像
通过在低加速电压下观察背散射电子成份像，能观察到每个碳化钨颗粒的通道衬度。
新的扫描系统使低加速电压下的图像质量更高
帧累积法能抑制荷电效应，对极易充电的样品可以轻松地进行观察。
新的扫描方式能减轻样品的带电，不易受到样品漂移的影响，即使是容易充电的样品，高倍率下的图像质量也得到了显著的提高。
低真空模式
全新的差动抽气系统
新的差动抽气系统显著提高了低真空模式下的图像质量，此外，低真空模式的
压力可高达 650Pa，进一步扩大了应用范围。
低真空扩展了压力 ：高达 650Pa
含有大量水分的软样品可能会由于样品室内的压力而无法保持原有的结构，这样的
样品不进行特殊处理就无法观察。但低真空压力范围扩展到 650 Pa 就可以进行观
察，即使没有特殊处理对样品的损伤也很小。
低真空二次電子像
即使是低真空模式下，通过低真空二次电子像也能清晰地观察有机材料的表面细节。
EDS 集成化 EDS 一触式分析
JSM-IT300A/LA
JEOL 是世界上一家集开发、制造和销售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在观察和分析过程中，轻触屏幕即可进行分析。
一触式分析
在 SEM 的操作界面上，只需轻触图标就可以执行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一体化集成，提高了通量和易用性。
基本的分析操作，在 SEM 的 GUI 上一触即成。
在 SEM 的 GUI 上，轻触屏幕即可执行基本的分析操作。
