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立式接触式干涉仪 JDS-1

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  • 公司名称上海光学仪器有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2022/9/20 10:46:26
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专业生产制造各类光学仪器、显微镜与精密工业计量仪器,上海光学仪器有限公司凭借优质可靠的产品与高品质的服务在生物研究医学领域及轻重工业国内市场上占据稳定的地位。一直致力于专注光学领域,透过行业垂直与水平整合,将电子与机械的核心技术进行结合,制造出多样的光电新产品,对光学元件深厚的加工与研发技术,形成一个结合光、机、电核心技术优势的优质光学企业。上光仪器近二十多年来的成长历程里,与国内行业各层面的发展紧密结合,不论是政府的航空工业、或是轻重工业、医疗、学校研究单位、天文、光学、电子等高科技研发方面, 皆不断有我厂的光学仪器设备,参与一同成长。上光仪器从改制至今已经有二十多年的历史,旗下企业包北京上光、西安上光、广州上光等分部。与国际光学公司建立良好的合作关系;随着企业的发展,产品技术含量的不断提高以及应用领域的不断扩大,上光仪器也正由产品研发、制造、销售转向应用开发、应用服务、产品销售的经营模式转变。目前,企业拥有多名原上海光学仪器厂专业设计、装配、校正人员,不但承担产品生产指导,同时为用户提供专业的咨询以及售后服务。
电子精密天平
立式接触式干涉仪JDS-1是一种采用量块或标准零件借以高精度的比较方式的立式精密长度计量仪器。主要用于150mm以下块规,亦可用作高精密度的长度和外径的精密测量,是各级计量室的基本长度计量仪器之一。
立式接触式干涉仪 JDS-1 产品信息

一、立式接触式干涉仪JDS-1参数

被测件长度:

150 mm

工作台行程:

5 mm

测杆移动范围:

0.5mm

分划板刻度范围:

±50

直接测量范围:

5-20μm

分度值调整范围:

0.05-0.2 μm

推荐使用分度值:

0.1 μm

测量压力:

(1.5±0.1) N

仪器示值稳定性:

0.02 μm

仪器误差:

±(0.03+1.5ni △λ/λ)um

n 是格数, i是格值,λ是滤光片中心波长,△λ是滤光片波长误差

仪器体积:

280×500×700 mm

仪器重量:

40 kg

二、仪器标准配件:

1

1、五筋园台

2

九筋玛瑙台

3

可调园平台

4

辅助台

5

平面测帽 Ф2

6

小球面测帽

7

干涉滤光片

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