BH916测试装置 | GDAT高频Q表 | ||
平板电容极片 | Φ50mm/Φ38mm可选 | 频率范围 | 20KHz-60MHz/200KHz-160MHz |
间距可调范围 | ≥15mm | 频率指示误差 | 3×10-5±1个字 |
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | 主电容调节范围 | 30-500/18-220pF |
测微杆分辨率 | 0.001mm | 主调电容误差 | <1%或1pF |
夹具损耗角正切值 | ≦4×10-4 （1MHz) | Q测试范围 | 2～1023 |
介电常数测试仪（高频）由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
介电常数测试仪（高频）以DDS数字直接合成方式产生信号源，频率达60MHz/160MHz，信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应，电容读数精确,且频率值可设置。
工作特性
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023；
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
c．标称误差
| A | C |
频率范围 | 25kHz～10MHz | 100kHz～10MHz |
固有误差 | ≤5％±满度值的2% | ≤5％±满度值的2% |
工作误差 | ≤7％±满度值的2% | ≤7％±满度值的2% |
频率范围 | 10MHz～60MHz | 10MHz～160MHz |
固有误差 | ≤6％±满度值的2% | ≤6％±满度值的2% |
工作误差 | ≤8％±满度值的2% | ≤8％±满度值的2% |
测试注意事项
a．本仪器应水平安放；
b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；
c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；
d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；
e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；
f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）
特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
